FISCHERSCOPE XDV-SDD熒光鍍層測(cè)厚儀 返回列表頁

產(chǎn)品描述

XDV-SDD測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測(cè)試或鍍層厚度和元素分布的測(cè)量都可以方便地用快速可編程XY工作臺(tái)完成。操作很人性化，測(cè)量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。

XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測(cè)器（SDD）。50mm?的探測(cè)器窗口確保能快速而精確地測(cè)量甚至是小面積的測(cè)量點(diǎn)。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測(cè)量任務(wù)建立優(yōu)化的激發(fā)條件。FISCHERSCOPE  XRAY XDVSDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率，從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和極低的檢測(cè)下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測(cè)量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時(shí)可測(cè)元素的范圍也擴(kuò)“大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測(cè)量空氣中的磷或鋁。

應(yīng)用實(shí)例：

法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測(cè)是否符合這些限制成為可能。例如，測(cè)量檢出限僅僅幾個(gè)ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。

金屬中的有害物質(zhì)，如鋁合金中的Pb, Cd

玩具：檢測(cè)其中的 Pb, Cd, Hg

特征：

      。帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。*高工作條件: 50kv, 50W
      。X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
      。準(zhǔn)直器: 4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到3mm
      ?；緸V片: 6個(gè)，可自動(dòng)切換帶彈出功能的可編程XY平臺(tái)
      。視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置,十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測(cè)量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
      。設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

      。測(cè)量超薄鍍層，例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
      。痕量分析，例如按照RoHS,玩具和包材指令檢測(cè)有害物質(zhì)
      。高精度黃金和貴金屬分析光伏行業(yè)
      。測(cè)量NiP層的厚度和成分