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相對(duì)介質(zhì)損耗|介電常數(shù)試驗(yàn)儀
介電強(qiáng)度、介電常數(shù)、體積電阻率、損耗因子----材料電氣性能之一
介電強(qiáng)度，是材料抗高電壓而不產(chǎn)生介電擊穿能力的量度，將試樣放置在電極之間，并通過(guò) 一系列的步驟升高所施加的電壓直到發(fā)生介電擊穿，以次測(cè)量介電強(qiáng)度。盡管所得的結(jié)果是以kv/mm為單位的，但并不表明與試樣的厚度無(wú)關(guān)。因此，只有在試樣厚度相同的條件下得到各種材料的數(shù)據(jù)才有可比性。 介電常數(shù), 用于衡量絕緣體儲(chǔ)存電能的性能. 它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時(shí)的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時(shí)的電容量之比。 介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度，也就是對(duì)電荷的束縛能力，介電常數(shù)越大，對(duì)電荷的束縛能力越強(qiáng)。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對(duì)電容的容量有影響，而同一種介質(zhì)的影響是相同的，介質(zhì)不同，介電常數(shù)不同。 體積電阻率，是材料每單位立方體積的電阻，該試驗(yàn)可以按如下方法進(jìn)行：將材料在500伏特電壓下保持1分鐘，并測(cè)量所產(chǎn)生的電流，體積電阻率越高，材料用做電絕緣部件的效能就越高。 損耗因子也指耗損正切，是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗（耗散的能量）的量度，一般情況下都期望耗損因子低些好。 |
介電性能定義：介電性能是指在電場(chǎng)作用下,表現(xiàn)出對(duì)靜電能的儲(chǔ)蓄和損耗的性質(zhì)，通常用介電常數(shù)和介質(zhì)損耗來(lái)表示.
相對(duì)介質(zhì)損耗|介電常數(shù)試驗(yàn)儀-介電常數(shù)定義：
介電常數(shù)，又稱(chēng)電容率〔permittivity 〕,是電位移D與電場(chǎng)強(qiáng)度E之比ε= D/E ，其單位為F/m 。
介電常數(shù)小的電介質(zhì)，其分子為非極性或弱極性構(gòu)造，介電常數(shù)大的電介質(zhì)，其分子為極性或強(qiáng)極性構(gòu)造。
介電常數(shù)是表征電介質(zhì)的最根本的參量，是衡量電介質(zhì)在電場(chǎng)下的極化行為或儲(chǔ)存電荷能力的參數(shù)。
電介質(zhì)電容、介電常數(shù)
真空電容 C0=Q0/V=e0s/d
電介質(zhì)電容 C=Q/V=ereos/d
相對(duì)介電常數(shù) εr = C/C0
Co = Q/V = eoA/d
C = eA/d er= e /eo
介電損耗 Dielectric loss
介質(zhì)的介電損耗是指電介質(zhì)在單位時(shí)間內(nèi)每單位體積中將電能轉(zhuǎn)換為熱能而損耗的能量。
電介質(zhì)的介電損耗一般用損耗角正切tand 表示，并定義為：
tand=介質(zhì)損耗的功率（即有效功率）/無(wú)功功率
同時(shí)，介電損耗也是表示絕緣材料〔如絕緣油料〕質(zhì)量的指標(biāo)之一。介電損耗愈小，絕緣材料的質(zhì)量愈好，絕緣性能也愈好。
tanδ=1/WCR(式中W為交變電場(chǎng)的角頻率；C為介質(zhì)電容；R為損耗電阻)。
tand是頻率的函數(shù)，是電介質(zhì)的自身屬性，與試樣的大小和形狀無(wú)關(guān)?？梢院徒殡姵?shù)同時(shí)測(cè)量，用介質(zhì)損耗儀、電橋、Q表等測(cè)量。
電導(dǎo)時(shí)tand與頻率ω的關(guān)系
介電損耗的形式
電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，內(nèi)部通過(guò)的電流包括：
〔1〕電容電流：由樣品的幾何電容充電引起電流〔位移電流〕；
〔2〕吸收電流：由松弛極化引起，是介質(zhì)在交變電壓作用下引起介質(zhì)損耗的主要來(lái)源；
〔3〕漏電電流：由介質(zhì)電導(dǎo)引起，與自由電荷有關(guān)，使介質(zhì)產(chǎn)生電導(dǎo)損耗。
電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下具體損耗的能量主要包括：
⑴極化損耗：在外電場(chǎng)中各種介質(zhì)極化的建立引起了電流，此電流與極化松弛等有關(guān)，引起的損耗稱(chēng)為極化損耗。
⑵電導(dǎo)損耗：在電場(chǎng)作用下，導(dǎo)電載流子做定向漂移，形成傳導(dǎo)電流，電流大小由介質(zhì)本身性質(zhì)決定，這局部傳導(dǎo)電流以熱的形式消耗掉，稱(chēng)之為電導(dǎo)損耗。
⑶電離損耗和構(gòu)造損耗
介電性能的測(cè)量方法
依據(jù)所測(cè)量的根本原理可分為三大類(lèi)①電橋法②諧振回路法③阻抗矢量法
電橋法：測(cè)量范圍：～150MHZ
測(cè)量原理：根據(jù)電橋平衡時(shí)兩對(duì)邊阻抗乘積相等，從而來(lái)確定被測(cè)電容器或介質(zhì)材料試樣的CX和tanX。
諧振回路法：測(cè)量范圍：40KHZ～200MHZ
測(cè)量原理：依據(jù)諧振回路的諧振特性進(jìn)展測(cè)量的。根據(jù)諧振時(shí)角頻率ω與回路的電感、電容之間的特定關(guān)系式，求得Cx和tanδX。
阻抗矢量法：測(cè)量范圍：～200MHZ
測(cè)量原理：通過(guò)矢量電壓一電流的比值的測(cè)量來(lái)確定復(fù)阻抗的，進(jìn)而獲得網(wǎng)絡(luò)、元件或材料的有關(guān)參數(shù)。
介電性能測(cè)試內(nèi)容主要包括
⑴絕緣電阻率
⑵相對(duì)介電常數(shù)
⑶介質(zhì)損耗角正切
⑷擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度
絕緣電阻率測(cè)試
絕緣電阻率測(cè)試通常采用三電極系統(tǒng)，可以分別測(cè)出試樣的體積電阻率ρv和外表電阻率ρs，測(cè)量電路圖如以下圖所示。
體積電阻率測(cè)試線(xiàn)路圖
外表電阻測(cè)量線(xiàn)路圖
平板試樣
管狀試樣
電極材料可用粘貼鋁箔、導(dǎo)電橡皮、真空鍍鋁、膠體石墨等
相對(duì)介電常數(shù)〔εｒ〕測(cè)試
相對(duì)介電常數(shù)通常是通過(guò)測(cè)量試樣與電極組成的電容、試樣厚度和電極尺寸求得。
平板試樣 
管狀試樣
介質(zhì)損耗角正切〔tanδ)的測(cè)定
通過(guò)測(cè)量試樣的等效參數(shù)經(jīng)計(jì)算求得，也可在儀器上直接讀取。
工頻、音頻下一般都采用電橋法測(cè)量，高電壓時(shí)采用西林電橋法。
西林電橋法
電橋平衡時(shí)
CN→標(biāo)準(zhǔn)電容
C4→可調(diào)電容
R4→固定電阻
R3→可調(diào)電阻
當(dāng)頻率為幾十千赫到幾百兆赫范圍時(shí)，可用集總參數(shù)的諧振法進(jìn)展測(cè)量，如下圖
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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