高壓電橋常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)參數(shù)

1 Q值測量范圍：5～999

Q

值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔或手動換擋
誤差：25kHz～10MHz   ≤5%±滿度值的2%

10MHz

～50MHz  ≤7%±滿度值的2%

2

電感測量范圍：0.1μH～1H  分七個量程

3

電容測量范圍：1PF～460PF
主電容調(diào)節(jié)范圍：40PF～500 PF

準確度：150PF以下±1.5PF

150PF

以上±1%
微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍：-3PF～0PF～+3PF
準確度：±0.2PF

4

頻率覆蓋范圍：25 kHz～50MHz 分七段
指示誤差：2×10-4±2個字

5

電源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

6

環(huán)境溫度：(0～+40)℃

7

相對濕度：RH<80%

8

外形尺寸：380mm×132mm×280mm

9

重量：約7kg
儀器介紹

全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業(yè)作科研實驗儀器.
高壓電橋常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)參數(shù)

ZJD-C高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
技術(shù)參數(shù)

ZJD-C

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項技術(shù)：

1

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

2

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4

自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6 DDS

數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7 計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

ZJD-C

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。