目錄:北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司>>介電常數(shù)測試儀>>介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀>> 高電壓絕緣介質(zhì)損耗測試儀
參考價(jià) | ¥ 120000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
¥120000 |
≥1臺 |
聯(lián)系方式:劉偉查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2023-06-05 15:49:06瀏覽次數(shù):381評價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請說明是智能制造網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
高電壓絕緣介質(zhì)損耗測試儀—測量高電壓絕緣介質(zhì)損耗的方法
關(guān)鍵詞:高電壓;介質(zhì)損耗;測量方法
從能量守恒定理角度來說,在交流電壓的作用下,絕緣介質(zhì)必定會在其內(nèi)部產(chǎn)生一定的 損耗,這些損耗包括絕緣介質(zhì)極化產(chǎn)生的損耗、絕緣介質(zhì)界面因放電產(chǎn)生的損耗以及絕緣介 質(zhì)內(nèi)部放電產(chǎn)生的損耗等。當(dāng)前電力系統(tǒng)中不少事故都是由于絕緣故障造成的,尤其是在高 電壓情況下絕緣介質(zhì)極易發(fā)生大面積的損耗,進(jìn)而影響電力輸送,嚴(yán)重的會造成電力系統(tǒng)癱 瘓。 因此,及時(shí)對介質(zhì)絕緣性進(jìn)行事先檢測,是消除介質(zhì)絕緣性差隱患、提高電力系統(tǒng)安 全穩(wěn)定運(yùn)行的有效措施。對絕緣介質(zhì)損耗的研究歷來是國際社會攻關(guān)的課題,在實(shí)踐中各國 也積累了一些有益的經(jīng)驗(yàn)和做法,隨著工業(yè)化與信息化的日漸融合尤其是計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速 發(fā)展,在傳統(tǒng)的絕緣介質(zhì)損耗測量方法的基礎(chǔ)上,電子控制的更趨自動化和高穩(wěn)定性精確性 的測量方法在不斷涌現(xiàn)。
一、傳統(tǒng)的介質(zhì)測量方法
(一)電橋法
電橋法是介損測量領(lǐng)域長期采用的一種方法,而傳統(tǒng)的測量方法主要就是指西林電橋 法。分析來看,當(dāng)前流行的電橋分西林型高壓電橋和電流比較儀型高壓電橋。其中最為典型 的要數(shù)西林電橋,所謂的電橋法也即西林電橋法。西林電橋?qū)儆诒容^同類阻抗元件的電橋, 它的標(biāo)準(zhǔn)阻抗和被測阻抗都是電容器。在強(qiáng)高壓下進(jìn)行高精度的介損測量是西林電橋的突出 優(yōu)勢,倘若采取特殊的措施甚至可以在強(qiáng)磁干擾下進(jìn)行頗高精度的測量;而電流比較儀型高 壓電容電橋的原理是用變壓器的比例臂代替普通的阻抗臂,以提高測量的準(zhǔn)確度,如若配以 專門的輔助電路,可以實(shí)現(xiàn)自動平衡電橋。
西林電橋法的測量原理是用標(biāo)準(zhǔn)電容和電阻將測試品進(jìn)行比較性的模擬測量。因?yàn)樗?/span> 模擬電路較為復(fù)雜,對元器件的要求比較高。隨著電力電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展, 數(shù)字化測量方法逐漸取代弊端較多的模擬方法,其原理是利用傳感器從試驗(yàn)品上取得電壓和 電流信號,經(jīng)預(yù)處理后再進(jìn)行數(shù)字化,之后輸至計(jì)算單元,算出相位差,最后得到測量值。 由于利用了計(jì)算機(jī)技術(shù),使得模擬電路結(jié)構(gòu)簡化,提高了儀器的性能。目前許多裝置就是基 于此原理,像 PSC 型介質(zhì)損耗自動測量儀,即為利用電流比較儀線路進(jìn)行平衡的,采用這 一裝置能夠達(dá)到很高的測量精度。
(二)伏安法
伏安法是常用也是成熟的一種傳統(tǒng)方法,其工作原理是借助被測試品的端電壓向量 和流過被測試品電流向量之比,得到被測試品的阻抗向量,根據(jù) Zx 的實(shí)部和虛部,進(jìn)一步 計(jì)算求得介質(zhì)損耗值 tgδ。這種測量方法在精密計(jì)算機(jī)引入后進(jìn)一步得到更新完善,基于 測量系統(tǒng)的不斷升級,測量數(shù)據(jù)的處理效率大大提高,而且精準(zhǔn)度也得到保證。電力電子技術(shù)的滲入使介質(zhì)損耗測量技術(shù)進(jìn)入一個(gè)新時(shí)代。
二、過零點(diǎn)時(shí)差比較法
過零點(diǎn)時(shí)差比較法是數(shù)字化測量介質(zhì)損耗中較早采用并且效果明顯的一種方法。其主要 原理是通過比較施加于介質(zhì)上的電壓 U 和電流 I 的過零時(shí)刻兩個(gè)值,求得兩個(gè)值之間的相位 差,從而求得介質(zhì)損耗角。與此同時(shí),再用脈沖技術(shù)求得兩個(gè)值的值差。若計(jì)數(shù)器顯示的脈 沖數(shù)為 n,而計(jì)數(shù)器的頻率為 f,則△t=n/f,測量裝置對損耗角的分辨率也就是 2л/Tf。由 此可見,只要計(jì)數(shù)器頻率足夠高,就可以保證較高的分辨率。過零點(diǎn)時(shí)差比較法的優(yōu)點(diǎn)在于 測量的分辨率高,容易數(shù)字化處理,其缺點(diǎn)是極易受諧波干擾,導(dǎo)致測量數(shù)值不準(zhǔn),這也是過零點(diǎn)時(shí)差比較法使用程度不高的主要原因
三、諧波分析法
諧波分析法的工作程序是首先由波形采集裝置u 和i 的時(shí)域波形同步地轉(zhuǎn)換為數(shù)字波形并存儲,然后計(jì)算機(jī)將兩個(gè)數(shù)字波形調(diào)入內(nèi)存,用離散傅立葉變換出兩個(gè)信號的基波,最后 由特定的換算公式求出絕緣介質(zhì)損耗角和等值電容。諧波分析法的關(guān)鍵步驟是基于傅立葉變換作等量,考慮到三角函數(shù)的正交性,傅立葉變換求解電壓和電流的基波是不受高次諧波的影響,也不會受儀器電子電路所產(chǎn)生的零漂影響,因此可以達(dá)到比較高的穩(wěn)定性和測量精準(zhǔn)度。
然而,諧波分析法的軟肋也是很明顯的。由于現(xiàn)實(shí)中電網(wǎng)頻率的不穩(wěn)定與采樣誤差,極 為容易造成對采樣信號作 DFT 時(shí)出現(xiàn)偏差,數(shù)據(jù)不真實(shí)影響最終測量結(jié)果,因此又多出了 一道消除偏差的程序,從而增加了麻煩。
四、異頻電源法
異頻電源法是一種全新的抗干擾方法。其原理是在介質(zhì)損耗測量中測試電源頻率偏離干 擾電源頻率,通過頻率識別或?yàn)V波技術(shù)排除干擾電源的影響。實(shí)際上 tgδ是隨著頻率的變 化而變化的,這就出現(xiàn)了不同頻率下的介質(zhì)損耗測量結(jié)果的等同性問題。異頻電源頻率不能 偏離工頻太遠(yuǎn),否則測量結(jié)果與工頻下的損耗值失去等同性;但也不能偏離太近,否則又會 增大頻率分辨的難度,同樣會造成較大的誤差。技術(shù)層面上看,將異頻頻率和工頻頻率分辨 開來可以采用 DFT。理論上只要滿足同步采樣條件,DFT 就不會出現(xiàn)泄漏效應(yīng),也就意味 著可以準(zhǔn)確地將異頻電源頻率所對應(yīng)的頻譜抽取出來,從而得到該頻率波的初相位。
不過,同樣由于電網(wǎng)頻率的不穩(wěn)定性,加之同步采樣環(huán)節(jié)存在的某些誤差,自然會造成 對采樣信號作 DFT 時(shí)出現(xiàn)較大的誤差,所以在對信號作 DFT 時(shí)應(yīng)該去針對性的措施來消弭 誤差,確保測量的 tgδ精準(zhǔn)度。
五、現(xiàn)代介損測量技術(shù)的發(fā)展動向
分析對比以上提出的介損測量技術(shù),發(fā)現(xiàn)都存在某些局限,因此現(xiàn)代測量介損技術(shù)的發(fā) 展趨向是在吸取借鑒以上幾種技術(shù)優(yōu)勢的同時(shí),進(jìn)一步克服其存在的弊端,并與新型的計(jì)算 機(jī)技術(shù)融合,在裝置性能逐漸走向了量程廣,功能上強(qiáng)調(diào)自動校正與補(bǔ)償,自動測量自動輸 出數(shù)據(jù),抗干擾能力強(qiáng)大,測量精度高的路子上來。如制造業(yè)強(qiáng)國德國最新推出的 LDV-5 型精密型介質(zhì)損耗測量裝置,采用了數(shù)字信號處理(DSP)芯片支持系統(tǒng),該系統(tǒng)對實(shí)時(shí)信號 的接受和數(shù)據(jù)處理可以在計(jì)算時(shí)間內(nèi)完成,而且由于捕獲測量值的時(shí)間短,使測量中面臨的 諧波靈敏度降到了低程度,大大提高了檢測數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度,再加上該裝置能實(shí)現(xiàn)全自動化 測量,這也提高了測量效率,同時(shí)最大限度地避免了傳統(tǒng)檢測方法容易出現(xiàn)的技術(shù)失誤。
高電壓絕緣介質(zhì)損耗測試儀
原理
材料介電性能主要用介電常數(shù)ε和介電損耗角正切tanδ來表征,其中介電常數(shù)是綜合反映電介質(zhì)極化行為的宏觀物理量。介電損耗角正切表征每個(gè)周期內(nèi)介質(zhì)損耗的能量與其貯存能量之比。
作用: 在實(shí)際工程應(yīng)用中,介質(zhì)損耗通常都是用介質(zhì)損耗角的正切tanδ來表示的。用tanδ值來研究電介質(zhì)損耗具有以下兩個(gè)明顯的優(yōu)點(diǎn):
(1)tanδ值可以和介電常數(shù)ε同時(shí)測量得到;
(2)tanδ值與測量樣品的大小和形狀都無關(guān),是電介質(zhì)自身的屬性,并且在許多情況下,tanδ值比ε值對介質(zhì)特性的改變敏感的多 。
用例:
高分子材料多系絕緣性好的材料,廣泛的用于電子及電工行業(yè)。使用時(shí)不希望絕緣材料本身能量損耗大,因而測量出介質(zhì)損耗因數(shù)就能評價(jià)材料的介質(zhì)本身能量損耗。工業(yè)上多選用介質(zhì)損耗因數(shù)小的高分子材料作為絕緣材料。通常極性橡膠的tanδ比非極性橡膠的大。它還與試驗(yàn)采用的頻率、溫度緊密相關(guān)。在一定溫度下,只有在某一頻率范圍內(nèi),分子偶極取向雖可追隨電場變化,但不wan全同步,有部分電能被吸收而發(fā)熱,tanδ出現(xiàn)最大值。同樣在一定頻率下,惟有某一溫度區(qū)域內(nèi)tanδ才會出現(xiàn)極大值,當(dāng)頻率升高時(shí),介質(zhì)損耗峰移向高溫端。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)