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沈陽科晶自動化設備有限公司
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M-3手持式四探針測試儀
M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
操作視頻
| 產品型號 | M-3手持式四探針電阻率測試儀 | ||||||
| 主要特點 | 1、測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成 2、手持式設計，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準 3、寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程 4、操作簡便、性能穩定：輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換，LED數字表頭顯示 5、多款探頭可選，適用于各種不同材料的導電性能測試 | ||||||
| 技術參數 | 1、工作電源 208-240V，50/60Hz；電池供電：DC3.7V 2、測量范圍、分辨率 電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2 3、基本誤差：±1%FSB±2LSB 4、外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H 5、凈重：0.3kg | ||||||
| 可選配件 | 1探頭 根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配 碳化鎢探針探頭（固體材料）：測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料（詳見圖1）；球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層（詳見圖2）；探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差（詳見圖3）。
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2、可選配快速恒壓四探針測試臺，對測試壓力進行調節保證恒壓測試，提高測試的精確度
