上海百賀儀器科技有限公司
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EPMA-8050G電子探針顯微分析儀具有超高分辨率面分析,具有非常的空間分辨率,二次電子圖像分辨率3nm，大束流超高靈敏度分析,全部分析操作簡單易懂.
搭載場發射電子光學系統，將島津EPMA分析性能發揮到
從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有非常的空間分辨率的場發射電子光學系統。結合島津傳統的高性能X射線譜儀，將分析性能發揮至。
超高分辨率面分析
對碳膜上Sn球放大3萬倍進行面分析。即使是SE圖像（左側）上直徑只有50nm左右的Sn顆粒，在X射線圖像（右側）上也是清晰可見。
的空間分辨率
EPMA可達到的別的二次電子圖像分辨率3nm（加速電壓30kV）分析條件下的二次電子分辨率。
（加速電壓10kV時20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）
二次電子圖像分辨率3nm
碳噴鍍金顆粒的觀察實例。實現分辨率
3nm（@30kV）。相對較高的束流也可將電子束壓
細聚焦，更加容易的獲得高分辨率的SEM圖像。
大束流超高靈敏度分析
實現3.0μA（加速電壓30kV）的束流。
全束流范圍無需更換物鏡光闌。
最多可同時搭載5通道高性能4英寸X射線譜儀
無人可及的52.5°X射線取出角。
4英寸羅蘭圓半徑兼顧高靈敏度與高分辨率。
最多可同時搭載5通道相同規格的X射線譜儀。
全部分析操作簡單易懂
全部操作僅靠一個鼠標就可進行的*可操作性。
追求「易懂」的人性化用戶界面。
搭載導航模式，自動指引直至生成報告。
超高靈敏度面分析
使用1μA束流對不銹鋼進行5000倍的面分析。精確地捕捉到了Cr含量輕微不同形成的不同的相（左側），同時也成功地將含量不足0.1%的Mn分布呈現在我們眼前（右側）。
納米材料是指三維空間尺寸中至少有一維處于納米數量級（1~100 nm），或由納米結構單元組成的具有特殊性質的材料，被譽為“21世紀重要戰略性高技術材料之一"。當材料的粒度大小達到納米尺度時，將具有傳統微米級尺度材料所不具備的小尺寸效應、量子尺寸效應、表面效應等諸多特性，這些特異效應將為新材料的開發應用提供嶄新思路。
測量要求 掃描面板探針表面三維形貌，提取profile測量探針頂端的磨損情況
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