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上海戎戈光電科技有限公司
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COMPACT EcoX射線熒光光譜儀用于合金分析和鑒定
COMPACT EcoX射線熒光光譜儀用于合金分析和鑒定
一、功能
1、采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
2、鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3、鍍層層數:多至5層。
4、測量點尺寸:圓形測量點,直徑約0.6毫米。
5、測量時間:通常30秒。
6、樣品尺寸:380mm長×340mm寬×250mm高。
7、測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。
8、可測厚度范圍:通常0.01微米到30微米,視樣品組成和鍍層結構而定。
二、特點和數據
1、采用基本參數法校準,可在無薄膜標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
2、X射線采用從上至下的照射方式,即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之,如果是從下至上的照射方式,遇到表面凹凸的樣品,無法調整Z軸距離,導致測量光程的變化,引起測量的誤差。例如(舉例不同距離導致的誤差數據)。
3、開放的校準模式,用戶可自行建立校準曲線不受儀器廠家限制。
4、提供符合NIST美國國家標準技術協會要求,A2LA美國實驗室協會認證的標準樣品,可驗證測量結果并讓實驗數據具有可追溯性。
5、Windows 7操作系統,數據可存儲,轉移,并可一鍵生成包含測量數據、統計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報告(word格式)。
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