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更新時間:2023-05-07 08:09:03瀏覽次數:161次
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MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,具有不同的數據處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,具有不同的數據處理功能; 所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機; 可使用一片或二片標準箔校準。
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
1
10
99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值)
-
可用各自的日期和時間標識特性的組數
500
數據總量
10000
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
設置極限值
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
連續測量模式中顯示*小值
MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數: 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端 分辨率
誤差
*小曲率 半徑(凸/凹)
*小測量直徑
*小基 體厚度
探頭尺寸
備注
磁 感 應 法
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
F1.6
0-1600μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
磁性測頭
F1.6/90
平面/6mm
φ8x8x170mm
90度磁性測頭;尤其適合于在管內壁測量
F3
0-3000μm
0.2μm
磁性測頭;可用于較厚的覆層
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0-20mm
10μm
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
φ45x70mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
兩 用
FN1.6
F0.5mm N50μm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
FN1.6P
平面
30mm
φ21x89mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0-2000μm
磙性渦流測頭
電 渦 流 法
N02
0-200μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
50μm
φ16x70mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
N.08Cr
0-80μm
2.5mm
100μm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N1.6/90
平面/10mm
φ13x13x170mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內壁測量
N10
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
φ60x50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20
±(1%±50μm)
70mm
φ65x75mm
N100
0-100mm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
7mm
無限制
φ17x80mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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