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ATX200N氧化膜測厚儀

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更新時間：2023-06-01 08:06:47瀏覽次數：115次

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產品簡介

詳細介紹

ATX200N氧化膜測厚儀概況

ATX200N氧化膜測厚儀配置嵌入式傳感器，采用電渦流法，可用于無損測量非磁性基體上非導電涂層厚度，符合以下工業規范和標準： GB/T 4957非磁基體上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法， JB/T 8393磁性和渦流式覆層厚度測量儀 DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、穩定，簡單、可靠、可用于現場快速測量等特點，配置集成測量探頭，可無損、快速、精密地進行非磁性金屬表面非導電涂層厚度測量，易于操作，廣泛應用于工業、船舶、橋梁、航空、工程、化工等領域。

ATX200N涂層測厚儀原理

ATX200N氧化膜測厚儀的工作原理是當測頭靠近金屬基體時，由于高頻交變電流在線圈中產生了電磁場，金屬基體會形成電渦流并對線圈產生反饋，隨后通過測量反饋量的大小可推導出相對應的厚度值。

測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)

ATX200N氧化膜測厚儀儀技術參數

l 測量范圍:0-1250um(0-50mil)

l 分辨率:0-999um;0.1um ≥1000um;1um

l 精度:≤100um;±2um 101-1250um;≤2.5%

l 數據存儲:500 條

l 顯示:帶背光點陣液晶屏(128X64)

l 電源:1.5VX3(AAA 干電池)

l 使用溫度:0-50°C

l 規格:128X51X31 mm