PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機
高壓加速老化試驗箱廠家外箱均采用304不銹鋼板,圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,門把設計,箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機
PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
特點優勢:
1.設備設計美觀大方,做工精細。
2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器,具有精度高,控制穩定特點(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏,USB曲線數據下載功能,和通訊功能)。
4. PCT加速老化試驗箱的水路配電盤分離,確保設備穩定可靠安全。
5.采用高效真空泵,使箱內達到**純凈飽和蒸汽狀態。
6.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法及功能顯示。