高溫高壓環境加速試驗箱/高壓加速測試箱產品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
高溫高壓環境加速試驗箱/高壓加速測試箱
a 型號:PCT—45L
b 內箱尺寸:450x500mm圓形內箱,符合工業標準
c 外箱尺寸:700x650x850mm(W、H、D)
d 容量: 35kg
參數:
a 溫度范圍: 100℃~+132 ℃
b 溫度波動度:±0.5℃
c 溫度偏差:±1.5 ℃
e 濕度范圍:99%RH(飽和蒸氣)
f 濕 度波動度:±2.0%RH
j 加壓時間:40分鐘 +132 ℃
h 循環方式:水蒸氣對流循環
四高溫高壓材質:
a 外箱材質:高級不銹鋼
b 內箱材質:SUS316#不銹鋼
c 箱體保溫材質:高級超細玻璃棉
d 單門圓門:門把手在右、內箱壓力愈大時,會有反壓使其與箱體更緊密結合,與傳統擠
壓不同,可延長packing壽命。
五高溫高壓蒸煮儀安全保護:
a 試驗箱可調試高溫保護
b 壓力限制保護
c 缺水報*保護
d 溫度加熱器保護
e 漏電漏水保護(設置報*)
f 手動泄壓保護,自動泄壓保護
j 切斷電源