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電致發(fā)光量子效率測量儀

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產(chǎn)品型號HiYield-EL

品牌ORIENTAL SPECTRA

廠商性質(zhì)其他

所在地廣州市

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更新時間：2024-09-06 15:02:29瀏覽次數(shù)：259次

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  ORIENTAL SPECTRA

東譜科技（廣州）有限責(zé)任公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：21條

所在地區(qū)：廣東廣州市

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產(chǎn)品簡介

電致發(fā)光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測量。HiYield-EL系統(tǒng)能夠以出色的檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)、電致發(fā)光測試儀、外量子效率測量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)、電功率密度測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)、光電特性測試、量子產(chǎn)率測量儀、積分球光譜測試儀、外量子效率（EQE）測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測量儀、IVLλ、EQE、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測試系統(tǒng)、外量子效率、量子效率測試系統(tǒng)

Product Keywords: Electroluminescence quantum efficiency Measurement System, electroluminescence Tester, External quantum Efficiency measurement system, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, luminescence characteristic test system, electroluminescence quantum Efficiency measurement system, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, External quantum Efficiency (EQE) measurement system, luminescence characteristic Measuring instrument, IVLλ, EQE, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute external quantum efficiency, quantum efficiency test system

▌ 產(chǎn)品簡介

電致發(fā)光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測量。HiYield 系統(tǒng)能夠以出色的檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測量。

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

□ 能夠以出色的檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；

□ 集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試）；

□ 由軟件控制測試過程，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時顯示；

□ 可快速、可靠對樣品的測試過程進(jìn)行追蹤；

□ 具有實(shí)時測量、預(yù)測量、定制測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。

▌ 產(chǎn)品功能

□ 效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；

□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；

□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；

□ 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等；

□ 穩(wěn)定性測試。

■ 包含測量模式

√ 電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；

√ 電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；

√ 恒壓單點(diǎn)測量；

√ 恒流單點(diǎn)測量；

√ 穩(wěn)定性測量：不同老化時間下測量。

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）

□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）

□ 發(fā)光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等

▌ 規(guī)格型號

電致發(fā)光特性測量系統(tǒng)
系列	HiYield-EL
光譜儀
*光譜范圍	210-980nm	225-1000nm	350-1050nm	900-1700nm
探測器	制冷CCD
系統(tǒng)信噪比	1000:1
A/D分辨率	16/18 bit
光學(xué)分辨率	0.14-7.7 nm FWHM
動態(tài)范圍	85000（典型）
雜散光	<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm
源表
電壓范圍	-210V~210V
電流范圍	-1.05A~1.05A
*分辨率	1pA / 100nV		10fA-10nV
積分球
*材料	Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等
*內(nèi)徑	3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選
*反射率	400至1500 nm，大于99%	＞97%	@600 nm 97-98%	＞95%
軟件
測量模式	?電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
	?電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
	?恒壓單點(diǎn)測量；
	?恒流單點(diǎn)測量；
	?穩(wěn)定性測量：不同老化時間下測量。
功能參數(shù)類別	?效率參數(shù)（外量子效率、電流效率、功率效率等）；
	?電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；
	?輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；
	?色度學(xué)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB顏色值等；
	?穩(wěn)定性測試。
測量夾具
*定制夾具	根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計夾具