微電子器件材料電性能測試SMU源表 返回列表頁

分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬用表、電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點。實施半導體分立器件特性參數分析的最佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發生器、 波形發生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。微電子器件材料電性能測試SMU源表認準普賽斯儀表

針對OFET等三端類型器件以及多樣品驗證測試，可直接通過2臺數字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道測試系統。

- 國產化數字源表，四象限工作

- 單通道/多通道方案可選

（最高可實現40通道同時測量）

- 支持直流/脈沖測試，測量范圍廣

- 分辨率強，測試精度高

武漢普賽斯是國內醉早生產源表的廠家，產品系列豐富：產品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產已經過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用，市場應用率高；SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，直流更大、精度更高、準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加精準、穩定的測試方案；微電子器件材料電性能測試SMU源表認準普賽斯儀表！