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普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備，產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU）的第三代半導體功率器件靜態參數測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現功率半導體器件靜態參數的高精度、高效率測量和分析。如果您對半導體電學參數測試設備iv+cv測試分析儀感興趣，歡迎隨時聯系我們！
產品特點：
30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力；
測量精度高,全量程下可達0.03%精度；
內置標準器件測試程序，直接調用測試簡便；
自動實時參數提取，數據繪圖、分析函數；
在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案，兼容性強；
免費提供上位機軟件及SCPI指令集；
典型應用：
納米、柔性等材料特性分析；
二極管；
MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；
第三代半導體材料/器件；
有機OFET器件；
LED、OLED、光電器件；
半導體電阻式等傳感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；
電阻率系數和霍爾效應測量；
太陽能電池；
非易失性存儲設備；
失效分析；
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