薄膜測厚儀 紙張測厚儀 硅片測厚儀 返回列表頁

薄膜測厚儀 紙張測厚儀 硅片測厚儀

◆設備型號：PARAM博每 CHY-C2A
◆設備品牌：Labthink蘭光
◆關鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB/T 6672，紙張測厚儀
◆設備報價：濟南蘭光咨詢！
◆應用范圍：采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
◆技術特征：
√ 嚴格按照標準設計接觸面積和測量壓力，支持各種非標定制
√ 測量頭自動升降，有效避免人為誤差
√ 支持自動和手動兩種測量模式
√ 實時顯示測量結果的zui大值、zui小值、平均值以及標準偏差等分析數據
√ 配置標準量塊用于系統標定
√ 支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能
√ 微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
◆技術特征：
1、測試范圍：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選） 
2、分辨率：0.1μm 
3、測量速度：10 次/min （可調） 
4、測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張） 
5、接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
      注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制 
◆執行標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
◆儀器標配：主機、標準量塊一件
◆生產廠家：濟南蘭光機電技術有限公司
◆公司：www.labthink.com