紅外熱成像儀-中篇

紅外熱成像技術是一種被動紅外夜視技術，其原理是基于自然界中一切溫度高于絕對零度(-273℃)的物體，每時每刻都輻射出紅外線，同時這種紅外線輻射都載有物體的特征信息，這就為利用紅外技術判別各種被測目標的溫度高低和熱分布場提供了客觀的基礎。

利用這一特性，通過光電紅外探測器將物體發熱部位輻射的功率信號轉換成電信號后，成像裝置就可以一一對應地模擬出物體表面溫度的空間分布，最后經系統處理，形成熱圖像視頻信號，傳至顯示屏幕上，就得到與物體表面熱分布相對應的熱像圖，即紅外熱圖像。

工作原理

非致冷焦平面紅外熱成像系統由光學系統、光譜濾波、紅外探測器陣列、輸入電路、讀出電路、視頻圖像處理、視頻信號形成、時序脈沖同步控制電路、監視器等組成。

　　系統的工作原理是，由光學系統接受被測目標的紅外輻射經光譜濾波將紅外輻射能量分布圖形反映到焦平面上的紅外探測器陣列的各光敏元上，探測器將紅外輻射能轉換成電信號，由探測器偏置與前置放大的輸入電路輸出所需的放大信號，并注入到讀出電路，以便進行多路傳輸。高密度、多功能的CMOS多路傳輸器的讀出電路能夠執行稠密的線陣和面陣紅外焦平面陣列的信號積分、傳輸、處理和掃描輸出，并進行A/D轉換，以送入微機作視頻圖像處理。由于被測目標物體各部分的紅外輻射的熱像分布信號非常弱，缺少可見光圖像那種層次和立體感，因而需進行一些圖像亮度與對比度的控制、實際校正與偽彩色描繪等處理。經過處理的信號送入到視頻信號形成部分進行D/A轉換并形成標準的視頻信號，最后通過電視屏或監視器顯示被測目標的紅外熱像圖。

　　紅外焦平面陣列的工作性能除了與探測器性能如量子效率、光譜響應、噪聲譜、均勻性等有關外，還與探測器探測信號的輸出性能有關，如輸入電路中的電荷存儲、均勻性、線性度、噪聲譜、注入效率，讀出電路中的電荷轉移效率、電荷處理能力、串擾等。

　　焦平面陣列結構有四種類型：單片式、準單片式、平面混合式和Z型混合式。單片式焦平面陣列是指在同一芯片上即含有探測器又含有信號處理電路的Si器件;準單片式焦平面陣列器件是將探測器和讀出線路分別制備，然后把它們裝在同一個襯底上，通過引線焊接將兩部分連在一起;平面混合式采用銦柱將探測器陣列正面的每個探測器與多路傳輸器一對一地對準配接起來;Z型混合式則將許多集成電路芯片一個一個地層疊起來以形成一個三維的電路層疊結構。平面混合和Z型混合方法的優點是由于將多路傳輸器與探測器直接混合，因而具有很高的封裝密度，較快的工作效率，并使總的設計得以簡化。由于信號處理是在焦平面陣列中進行的，所以減少了器件的引線數目，光學孔徑和頻譜帶寬也得以減小。

　　讀出電路的電荷處理能力直接控制焦平面的動態范圍，它的電荷轉移效率影響焦平面的非均勻性、數據率、串擾和噪聲，這些都綜合影響焦平面的空間、時間和輻射能量的極限分辨能力以及空間和時間頻率傳遞特性。因此，讀出電路的設計要求為：高電荷容量、高轉移效率、低噪聲和低功率耗散;其次考慮抗光暈控制和降低交叉串擾。

　　據報道，砷化鎵(GaAs)可作為一種潛在的焦平面陣列讀出技術，其原因是：GaAs的熱膨脹系數與碲鎘汞探測器(HgCdTe)的匹配要比硅好得多，這樣便有可能可靠地制備大型混合焦平面陣列;GaAs技術的輻射硬度比硅好得多;n型GaAs器件的施主能級比硅更接近導帶邊緣，這就使得GaAs器件在4K時更不受凍結效應的影響。

　　目前達到實用水平的焦平面陣列探測器主要有碲鎘汞、銻化銦、硅化鉑和非制冷探測器4種。陣列式凝視成像的焦平面熱像儀，屬新一代的熱成像裝置，在性能上大大優于光機掃描式熱像儀，定將逐步取代光機掃描式熱像儀。其關鍵技術是探測器由單片集成電路組成，被測目標的整個視野都聚焦在上面，并且圖像更加清晰，使用更加方便，儀器非常小巧輕便，同時具有自動調焦圖像凍結，連續放大，點溫、線溫、等溫和語音注釋圖像等功能，儀器采用PC卡，存儲容量可高達500幅圖像。

　　紅外熱像儀是通過非接觸探測紅外能量(熱量)，并將其轉換為電信號，進而在顯示器上生成熱圖像和溫度值，并可以對溫度值進行計算的一種檢測設備。紅外熱像儀能夠將探測到的熱量精確量化，或測量，不僅能夠觀察熱圖像，還能夠對發熱的故障區域進行準確識別和嚴格分析。