簡介:
高溫低電阻測試儀器采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。
優勢
1、整體為桌面型設計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結構,滿足實驗室無灰塵排放的要求。
2、內置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設定加熱曲線,并實現和其他測試設備的集成控制。
3、定點控溫模式下,可以將樣品 1 0s內加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下,可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續工作時間不低于1 小時。
6、采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。
8、配備真空泵,水冷設備,配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
9、溫度均勻區:60 m m *1 0 0m m。
特點:
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統,增設氣體冷卻裝置,可實現快速冷卻。
2、溫度高精度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫(高純度惰性氣體,靜態或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。
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