防止負(fù)溫結(jié)霜或高溫下氧化-高低溫探針臺 返回列表頁

防止負(fù)溫結(jié)霜或高溫下氧化-高低溫探針臺

一、華測-高低溫冷熱臺通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計不僅點針，而且點針力度大，和樣品的電接觸性較好。

二、華測-高低溫冷熱臺可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在-190°C ~ 600°C范圍內(nèi)控溫，同時允許探針電測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構(gòu)成一個氣密腔，可往內(nèi)充入氮氣等保護(hù)氣體，來防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。

三、設(shè)備優(yōu)勢：

1.高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實現(xiàn)快速冷卻。

2.溫度高的精度控制

近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以精確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高的精度。

3.不同環(huán)境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體靜態(tài)或流動)，操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

四、溫控&加熱參數(shù)

公司主營產(chǎn)品：
幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。

       我們深信未來是一個更加智慧的世界，華測公司與合作伙伴一起，努力研發(fā)更加高效的檢測系統(tǒng)以工業(yè)自動化設(shè)備，推動中國新材料時代發(fā)展的進(jìn)程，推動世界的進(jìn)步，并堅信世界因我們而不同。