壓電陶瓷高溫性能測(cè)量鐵電參數(shù)測(cè)試儀器 返回列表頁(yè)

壓電陶瓷高溫性能測(cè)量鐵電參數(shù)測(cè)試儀器

產(chǎn)品介紹：                                                           

本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡(jiǎn)單方便。

軟件功能：                                                           

HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語界面：支持中文/英文 兩種語言界面；

即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

優(yōu)點(diǎn)：                                                           

可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；

測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試；

可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試

它可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)

可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試        

本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)

壓電常數(shù)測(cè)試原理：                                                   

熱釋電系數(shù)測(cè)試原理：