高溫鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀 返回列表頁

高溫鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀

一、高溫鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀概述：

本測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量，本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器＼數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
  本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。儀器采用一體化設(shè)計，實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便。

二、構(gòu)成部分：
   鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

三、主要用途：

鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。