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篤摯儀器（上海）有限公司
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日本奧林巴斯 Olympus OmniScan MX ECA渦流陣列探傷儀
OmniScan MX ECA用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈（使用外置多路轉換器可支持64個線圈），其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。渦流陣列檢測渦流陣列技術渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。渦流陣列探頭Olympus NDT制造的R/D Tech ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
| | 渦流陣列的優勢同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢： | |
 | 檢測時間大幅度降低。 單次掃查覆蓋更大檢測區域。 減小了機械和自動掃查系統的復雜性。 提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。 適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。 |
替代傳統的NDT方法，漆層去除已經過時
渦流陣列具有透過導電材料上的薄涂層進行檢測的特別性能。與現有的檢測方式相比，如：滲透、磁粉或磁光成像（MOI）檢測，這個性能具有很大的優勢，因為*省去了檢測前去除漆層或鍍層，檢測后再重新涂上漆層或鍍層的步驟。這種檢測方式可以為用戶節省大量的成本，而且重要的是不使用化學制劑進行檢測。
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。 根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。 標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。 傳感器之間的多路轉換技術。 渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設置具有更大的靈活性。 探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應檢測部件的外形。 用于腐蝕檢測的發射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。 用于表面裂痕檢測的發射-接收探頭以及一個可選編碼。 用于表面裂痕檢測的式探頭。
渦流陣列探頭
ECT模式下的OmniScan MX儀器，一款性能強大的探傷儀綜合使用ECA和ECT技術
某些檢測程序可能特別要求使用ECT技術，但ECA技術在這些應用中又有助于用戶節省時間并方便地找到缺陷區域。使用了OmniScan MX ECA，用戶就無需在檢測開始只使用一種技術。在檢測過程中，用戶可以隨時按住菜單鍵，即刻在ECA和ECT模式之間進行轉換。儀器可以與兩種探頭保持連接，而且它們的配置設置可以持續處于激活狀態。
| 技術規格 | ||
| 渦流模塊的技術規格 | 外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
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| 重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
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| 接口 | 1個OmniScan®渦流陣列探頭接口 1個19針Fischer®渦流探頭接口 1個BNC接口 |
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| 通道數量 | 32個通道，帶內置多路轉換器 64個通道，帶外置多路轉換器 |
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| 探頭識別 | 自動探頭識別和設置 |
| 發生器 | 發生器數量 | 1個（帶內置電子參考） |
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| *大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
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| 工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
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| 帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 |
| 接收器 | 接收器數量 | 1個～4個 |
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| *大輸入信號 | 1 Vp-p |
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| 增益 | 28 dB～68 dB |
| 內置多路轉換器 | 發生器數量 | 32個（８個時隙時，4個發生器同時工作；使用外部多路轉換器時，多達64個） |
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| *大電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
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| 接收器數量 | 4個差分接收器（每個8時隙） |
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| *大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 數據采集 | 數字化頻率 | 40 MHz |
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| 采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發模式的延遲設定所限制。 |
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| Ａ/D分辨率 | 16比特 |
| 應用 | |
| 應力腐蝕開裂解決方案 這些解決方案要使用性能強大、使用方便的OmniScan MX ECA渦流陣列探傷儀來完成。 檢測蒙皮疊邊中裂紋的解決方案 用于探測蒙皮疊邊中裂紋的檢測方案利用*的ECA技術探測材料表面以下的缺陷。 C掃描的應用可保證更高的探出率及更好的再現性。在減少檢測時間方面，這個解決方案可謂是一個巨大的進步。 ECA表面裂縫探測 表面裂縫ECA解決方案建議用戶使用在人體工程學方面得到完善的SBBR-026高分辨率ECA探頭類型。 這個解決方案即使在材料涂有漆層及薄鍍層的情況下，也可以很快的速度探測到會使材料表面開裂的裂縫。 這個方案特別適用于對飛機上的成排緊固件進行快速檢測。 ECA近表面裂縫探測 近表面裂縫ECA檢測解決方案可以在無需去除漆層的情況下掃查飛機的層（蒙皮）， 以探測到第二層蒙皮上的開裂情況。兩種ECA探頭類型（商用飛機和飛機）都可以使用這種解決方案。 這兩種探頭在一次掃查中都可以覆蓋至少64毫米長度。 ECA近表面腐蝕探測 近表面腐蝕ECA檢測解決方案可以對大面積區域進行快速檢測，以發現潛在的腐蝕情況。 兩種探頭類型（商用飛機和飛機）都可以使用這個解決方案。 這個解決方案可以在無需去除漆層的情況下，即刻評價隱藏腐蝕缺陷的嚴重程度（缺陷深度）。 | |
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