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EV系列二次元影像測量儀（電腦測量投影儀）

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產品簡介

EV系列二次元影像測量儀（電腦測量投影儀）EV系列光學影像測量儀采用本公司開發的精密多段倍率，超低變形式，遠心光學設計的變焦鏡頭，配上本公司專為光學測量而設計的專用DSPCCD采用色影像系統，將被測工件的表面紋理清晰細致地顯現，輪廓層次分明，精確無誤地放大20-150倍作精密測量

詳細介紹

EV系列二次元影像測量儀（電腦測量投影儀）

EV系列光學影像測量儀采用本公司開發的精密多段倍率，超低變形式，遠心光學設計的變焦鏡頭，配上本公司專為光學測量而設計的專用DSP CCD采用色影像系統，將被測工件的表面紋理清晰細致地顯現，輪廓層次分明，精確無誤地放大20-150倍作精密測量。
EV系列光學影像測量儀以高精度的大理石作機身的支架，配上高精度工作臺，X/Y/Z軸的量測精度高達（3+L/100）μm。
EV系列光學影像測量儀配備由本公司自行開發，功能強大，使用簡單的全功能測量軟件，測量結果可以圖擋DXF格式輸出至各類通用的CAD軟件，如AUTOCAD，MASTERCAM等等，方便用戶使用于抄數應用，相反地，用戶也可將DXF格式的圖檔輸入至本公司的測量軟件內，作直觀測量比較。
EV系列光學影像測量儀配備本公司自行開發，使用簡單的SPC統計分析軟件，使用戶可以輕松對其加工流程進行科學化分析，從而輕易地找出流程中的誤差趨勢，以及工序中存在的問題所有測量結果均可輸出至通用的辦公軟件，如EXCEL，WORD等格式，方便用戶保存，編制質量檢查報告，或作進一步的處理。

Renishaw高精度接觸式測頭可選配件
EV系列光學影像測量儀均可選配英國Renishaw的高精度接觸式測頭,作2D/3D復合測量,使EV系列光學影像測量儀變成一臺具三座標測量功能的簡單三座標測量機.
本公司的測量軟件提供多種三座標測量功能,包括Z軸高度、圓球、斜面、圓柱、圓錐等等。
使用測頭的三維測量可與兩維的影像測量混合使用，采用相同的座標系統，使影像的兩維平面測量與三維的立體測量、輕松的結合。

型號	EV-2515	EV-3020	EV-4030
（X/Y/Z）量測行程	250×150×150mm	300×200×200mm	400×300×250mm
外形尺寸(長寬高)	100×60×140cm	120×72×160cm	120×72×160cm
機身重量	170kg	280kg	410kg
重復性	2μm
機臺承重量	30kg
操作方式	手動
量測分辨率	0.001mm
X/Y/Z軸測量精度	(3+L/100)μm
光源系統	上,下可調光源
平臺結構	00級花崗石機臺及立柱
精密探頭(選配)	英國RENISHAW精密探頭配φ3與φ2探針
鏡頭	EV遠心光學設計鏡頭(Telecetriclens)
放大倍率	光學放大倍率0.65-4.5×,影像放大倍率20×-150×
標準電腦配置	C4/2.4G/256M內存/40G硬盤17"寸液晶顯示器
影像系統	EV高解放析CCD影像頭(1/2"CCD Sensor)及支專用DSP