GaN射頻功放I-V測試脈沖恒壓源 返回列表頁

GaN射頻功放I-V測試脈沖恒壓源簡介

CP系列脈沖恒壓源是武漢普賽斯儀表推出的窄脈寬、高精度、寬量程插卡式脈沖恒壓源。設備支持窄脈沖電壓輸出，并同步完成輸出電壓及電流測量；支持多設備觸發實現器件的脈沖IV掃描等；支持輸出脈沖時序（如延遲、脈寬、周期等參數變量等）調節，可輸出復雜曲線。主要特點有：脈沖電流大，Z高可至10A；脈沖寬度窄，Z小可低至100ns；支持直流、脈沖兩種電壓輸出模式；支持線性，對數，以及自定義多種掃描工作方式。

特點

插卡式設計，1CH/插卡Z高支持10通道；

直流/脈沖兩種電壓輸出模式；

大脈沖電流Z高可至10A；

超窄脈寬低至100ns；

高速率采樣Z高支持125MHz；

多種掃描模式；

技術參數

GaN射頻功放I-V測試脈沖恒壓源應用領域

CP系列脈沖恒壓源可應用于氮化鎵、砷化鎵等材料構成的高速器件的I-V測試，如大功率激光器、GaN射頻功放、憶阻器等

訂貨信息

普賽斯以自主研發為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態測試系統、大功率激光器老化測試系統等測試設備，廣泛應用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風電，軌交，變頻器等場景。