大功率半導體激光器芯片測試設備 返回列表頁

普賽斯大功率半導體激光器芯片測試設備是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出的一套通用性好、大功率、循環水冷的老化測試系統。產品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩定、抗干擾能力強，并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案

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