半導體測試高電流源50μs-500μs脈寬可調 返回列表頁

普賽斯HCPL100型半導體測試高電流源50μs-500μs脈寬可調為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（15us）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點。

設備可廣泛應用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合，使用該設備可以獨立完成“電流-導通電壓"掃描測試。

技術指標
電流脈寬  50μs~500μs
脈沖電流上升沿時間    典型時間15us
輸出脈沖電流        5 ~1000A量程，精度0.1%FS±1A
輸出負載電壓要求<12V@1000A
DUT電壓測量    2獨立通道
DUT電壓測量   遠端測量，峰值電壓測量（取樣點可配置）
DUT電壓測量    0~0.3V量程，精度0.1%±0.3mV

DUT電壓測量   0~3V量程，精度0.1%±3mV

DUT電壓測量    0~18V量程，精度0.1%±8mV
電流脈沖輸出間隔時間1秒
電流脈沖峰值功率<12kW
支持多設備并聯輸出超大電流，如3000A
支持輸出極性反轉
觸發信號  支持trigin及trig out
通訊接口 RS232
輸入電壓        90~264VAC、50/60Hz
輸入功率<750W
尺寸：長516x寬250x高160mm

半導體測試高電流源50μs-500μs脈寬可調應用領域

肖特基二極管

整流橋堆

IGBT器件

IGBT半橋模塊

IPM模塊