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Duetta可作為熒光光譜儀使用,也可以作為UV-Vis-NIR光譜儀測量吸光度,或用于測量真正的分子指紋,這需要同步獲取熒光和吸光度,同時進行內濾效應校正
Duetta 可作為熒光光譜儀使用,也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度,或用于測量真正的分子指紋,這需要同步獲取熒光和吸光度,同時進行內濾效應校正。同步吸收- 熒光光譜儀Duetta 標配超快******的CCD 技術,讓它在采集速度的數倍, Duetta 標配超快******的CCD 技術,讓它在采集速度的數倍優于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是******一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一******的CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm,遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍
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