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CDGW530低介電常數(shù)導波雷達液位計
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- 上儀集團-上海儀表集團公司營銷中心
- 2016-01-04 21:21:29
- 上海
- 689
【簡單介紹】
【詳細說明】
CDGW530 低介電常數(shù)導波雷達液位計 詳細介紹：http://yibiao-sh.com/ch/product-2988.html
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質的距離成正比。
容器中存在兩種不同介質，當上面一層的介質介電常數(shù)較小，而下面的介質介電常數(shù)較大時，高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質的介面，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數(shù)比下層介質介電常數(shù)小10以上。
特 點
由于采用了*的微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式，使得CDGW系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質等。
采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。
容器中存在兩種不同介質，當上面一層的介質介電常數(shù)較小，而下面的介質介電常數(shù)較大時，高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質的介面，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數(shù)比下層介質介電常數(shù)小10以上。
特 點
由于采用了*的微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式，使得CDGW系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質等。
采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。
應用:液體測量特別是小介電常數(shù)液體,復雜過程條件
zui大量程： 6m
測量精度：±10mm
過程連接：法蘭316L
探測組件材料：不銹鋼316L/PTFE
鋼纜/棒直徑：￠28mm
過程溫度：-40～150℃
過程壓力：-0.1～40bar
信號輸出：兩線制4～20mA /HART
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