詳細(xì)摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進(jìn)行測量,可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2024-05-30 在線留言PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場總線 變頻器 機(jī)器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 無線通訊 機(jī)箱機(jī)柜