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聚創未來精密儀器（大連）有限公司
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產品概述JC-200配備抽真空，配置了真空測試系統，增加了元素測試范圍，探測器配備SDD的測試系統，特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限，精確度提高了，同時在測試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復性穩定性有了明顯的提高
產品概述
JC-200配備抽真空，配置了真空測試系統，增加了元素測試范圍，探測器配備 SDD 的測 試系統，特別是提高了 Na、Mg、Al、Si 等輕元素的檢出限，精確度提高了，同時在測試 Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl 等其他元素的重復性穩定性有了明顯的提高。
儀器特點
· 無損檢測，測量時間比化學方法短，不需要輔助材料。
· 可測定Na(11)～U(92)之間所有元素，元素含量分析范圍為1PPm到99.99%。
· 光譜的自動獲取和顯示，具有自動檢測儀器工作狀態的功能。
· 半導體探測器，通過智能激光和檢測設計實現高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬合分析方法。
· 高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區分。
· 采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度，全自動定量分析報告，自適應初始化校正。
· 測試穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便。
應用領域
適用于礦石、合金、水泥、爐渣、煤灰、耐火材料以及中心實驗室成品檢驗等領域。
技術參數
儀器型號 | JC-200 |
分析元素范圍 | Na(11)—U(92)任意元素 |
檢出下限 | 1ppm |
樣品類型 | 固體 / 粉末 / 液體 |
X射線管 | Mo/W/Ag/Rh等靶材可選 管電壓：5─50kV 管電流 :1─1000μA |
內腔尺寸 | 150mm*150mm*100mm |
準直器 | 2、4、4、8mm |
探測器 | 美國Amptek SDD探測器 |
前置放大器 | 美國Amptek 前置放大器 |
主放大器 | 美國Amptek 主放大器 |
AD轉換模塊 | 美國Amptek AD轉換模塊 |
ADC | 2048道 |
濾光片 | 6種濾光片自動選擇并自動轉換 |
樣品觀察 | 130萬彩色CCD攝像機 |
分析軟件及方法 | 升級，理論alpha 系數法、基本參數法、經驗系數法 |
工作環境 | 溫度 10－35℃ 濕度 30－70％RH |
外形尺寸 | 600(W)×500(D)×500(H)mm |
重量 | 60kg（主機部分） |
外部供電要求 | AC220±10%、50/60Hz |
測試樣品時間 | 0－300秒可調 |
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