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聚創未來精密儀器（大連）有限公司
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產品概述JC-100非真空熒光光譜儀(能量色散X熒光光譜儀)體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇
產品概述
JC-100非真空熒光光譜儀(能量色散X熒光光譜儀)體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇。可測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場合。
儀器特點
· 無損檢測，測量時間比化學方法短，不需要輔助材料。
· 可測定S(16)～U(92)之間所有元素，元素含量分析范圍為2PPm到99.99%。
· 光譜的自動獲取和顯示，具有自動檢測儀器工作狀態的功能。
· 操作簡單，一鍵測試，對操作人員無要求。
· 硅半導體探測器，通過智能激光和檢測設計實現高?敏度，用戶可定義多曲線多光譜擬合分析方法。
· 采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度，全自動定量分析報告，自適應初始化校正。
· 測試穩定性好、分析快速準?、墇行成本低、操作維護方便。
應用領域
適用RoHS、合金、貴金屬、土壤重金屬、廢液重金屬以及中心實驗室成品檢驗檢測等領域
技術參數
儀器型號 | JC-100 |
分析元素范圍 | S(16)—U(92)任意 |
素檢出下限 | 2ppm |
樣品類型 | 固體/粉末/液體 Mo/W/Ag/Rh等靶材可選 |
X射線管 | 管電壓：5─50kV 管電流：1─1000μA |
內腔尺寸 | 450mm*330mm*100mm |
準直器 | 2、5、8mm |
探測器 | 美國Amptek Si-PIN探測器 |
前置放大器 | 美國Amptek 前置放大器 |
主放大器 | 美國Amptek 主放大器 |
AD轉換模塊 | 美國Amptek AD轉換模塊 |
ADC | 2048道 |
濾光片 | 6種濾光片自動選擇并自動轉換 |
樣品觀察 | 130萬彩色CCD攝像機 |
分析軟件及方法 | 升級，理論 alpha 系數法、基本參數法、經驗系數法 |
工作環境 | 溫度10－35℃，濕度30－70％RH 大氣環境 |
外形尺寸 | 600(W)×500(D)×430(H)mm |
重量 | 50kg（主機部分） |
外部供電要求 | AC220±10%、50/60Hz |
測試樣品時間 | 0－300秒可調 |
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